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MPN: NT-MDT Spectrometer
Système de microscope confocal à force atomique NT-MDT NTEGRA Spectra SNOM STM AFM
À vendre, le NTEGRA Spectra original de NT-MDT - Intégration du SPM et du système de microscopie confocale. Fabriqué par Molecular Devices et la société Tools for Nanotechnology vers l'année 2010. Ce système a été décommissionné précédemment par une université et ils ont retiré le disque dur avec le logiciel. En tant que tel, ce système n'est pas entièrement testé et nous ne pouvons parler que du matériel. Nous avons reçu une offre pour une copie du logiciel par le fabricant d'origine pour environ 9 000 $. Nous ne garantissons pas que le logiciel est la seule chose nécessaire pour rendre ce système fonctionnel, nous ne sommes pas des experts avec ce système. Voir les photos. Ce système est en état \"utilisé\" et peut donc avoir de petites rayures, des bosses et d'autres imperfections. L'unité de base s'allume lorsqu'elle est branchée aux contrôleurs.
Comprend ce qui suit dans l'achat:
-Unité de base, comprend le CCD et l'optique en surcoût, ainsi que le module IO de rayonnement laser
-Scanner
-Tête de mesure optique 830 avec support de sonde AFM
-Tête AFM (tête de mesure universelle)
-Tête STM
-2x Contrôleurs NTEGRA
-Interface USB NS
-Contrôleur PC avec cartes PCI (disque dur manquant, couvercle supérieur et peut-être d'autres éléments)
-STELLAR-PRO-L 514nm Modu-Laser avec support OTS et ventilateur refroidisseur
-MS 5004i NTEGRA Spectromètre unité spectrale avec Andor DV401-BV CCD
-De nombreux câbles interconnectés (principalement DB-9), accessoires, raccords, supports, etc.
En raison de la grande taille et du poids de ce système, il sera expédié par fret. Expédition gratuite de quai à quai partout dans le continent.
Du fabricant:
SPECIFICATIONS
Microscopie confocale Raman/fluorescence
AFM/STM : Intégration avec la spectroscopie
Spectroscopie
Microscopie Optique à Champ Proche (SNOM)
Optimisé pour la diffusion Raman améliorée par pointe (TERS) et d'autres techniques optiques liées à la pointe
(S-SNOM, SNIM, TEFS, STM-LE, etc.) Microscopie confocale Raman/fluorescence
L'imagerie Raman/Fluorescence/Rayleigh confocale fonctionne simultanément avec l'AFM (pendant un scan d'échantillon)
Résolution spatiale limitée par diffraction : 200 nm en XY, 500 nm en Z (avec objectif à immersion)
Vraie confocalité ; bouton-poussoir depuis le logiciel pour contrôler le pinhole confocal motorisé pour un signal et une confocalité optimaux
Expanseur/collimateur de faisceau motorisé à variable : ajuste le diamètre et la collimation du faisceau laser individuellement pour chaque laser et chaque objectif utilisé
Imagerie confocale 3D complète (XYZ) avec une puissante analyse d'image
L'imagerie hyperspectrale (enregistrement du spectre Raman complet à chaque point d'un scan confocal 1D, 2D ou 3D) avec une analyse logicielle ultérieure
Lithographie optique (vecteur, raster) AFM/STM : Intégration avec la spectroscopie
Configurations AFM optiques en position verticale et inversée (optimisées pour des échantillons opaques et transparents respectivement);
option d'illumination latérale
Une optique de la plus haute résolution possible (ouverture numérique) est utilisée simultanément avec l'AFM : 0,7 NA pour l'Upright, 1,3-1,4 NA pour l'Inverted
Des images AFM/STM et de Raman/fluorescence confocale sont obtenues simultanément (durant un seul scan)
Tous les modes d'imagerie SPM standard sont pris en charge (30 modes) combinés avec la Raman/confocal fluorescence
AFM/STM à faible bruit (résolution atomique)
Les vibrations et les dérives thermiques provenant du corps du microscope optique sont minimisées grâce à la conception spéciale des têtes AFM optiques
Fonction de suivi de mise au point : l'échantillon reste toujours en mise au point grâce au retour d'information Z de l'AFM ; des images confocales de haute qualité d'échantillons très rugueux ou inclinés peuvent être obtenues
Spectroscopie*
Spectromètre de longueur 520 mm d'une efficacité extrêmement élevée avec 4 réseaux motorisés
Plages spectrales visibles, UV et IR disponibles
Grille de diffraction avec une ultrahaute dispersion ; résolution spectrale : 0,007 nm (< 0,1 1/cm)**
Jusqu'à 3 détecteurs différents peuvent être installés
Caméra CCD refroidie (jusqu'à -100 °C). La caméra EMCCD est optionnelle pour l'imagerie ultrarapide
Multiplicateur de photons (PMT) ou photodiode à avalanche en mode comptage de photons
Multiplicateur de photons pour imagerie laser confocale rapide (Rayleigh)
Optique de polarisation motorisée flexible dans les canaux d'excitation et de détection, mesures Raman croisées
Commutation entièrement automatisée entre différents lasers en quelques clics de souris Microscopie optique à champ proche par balayage (SNOM)*
Deux techniques SNOM majeures prises en charge : (i) basées sur des sondes en fibre de quartz, (ii) basées sur des sondes en cantilever en silicium
Tous les modes pris en charge : Transmission, Collection, Réflexion
Tous les signaux SNOM détectés : intensité du laser, intensité de fluorescence, spectroscopie
Lithographie SNOM (vecteur, raster)
Optimisé pour la diffusion Raman améliorée par pointe (TERS) et d'autres techniques optiques liées à la pointe (S-SNOM, SNIM, TEFS, STM-LE, etc.)
Toutes les géométries TERS existantes sont disponibles : illumination / collecte par le bas, par le haut ou par le côté
Différentes techniques SPM et sondes TERS peuvent être utilisées : STM, cantilever AFM, fourchette de quartz en modes de tapotement et de force de cisaillement
Scan double (pour la cartographie des points chauds en TERS) : scan par échantillon ET scan par pointe / par spot laser
Optique de polarisation motorisée pour produire une polarisation optimale pour les mesures TERS AFM-Raman peut fonctionner dans l'air, dans une atmosphère contrôlée ou dans un liquide, le tout avec une température variable (pour la configuration inversée)
Certaines fonctionnalités répertoriées sont optionnelles et ne sont pas incluses dans la configuration de base du système
Politique de retour
Items are sold as-is with no returns or refunds available unless explicitly stated.
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